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簡要描述：美國FSM 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備：在襯底鍍上不同的薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣，以及不同的材料不同溫度下特性不一樣, 所以會引起應(yīng)力。 如應(yīng)力太大會引起薄膜脫落, 引致組件失效或可靠性不佳的問題。 薄膜應(yīng)力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計(jì)算出應(yīng)力, 是品檢及改進(jìn)工藝的有/效手段。
產(chǎn)品型號：FSM 128廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時間：2026-05-25訪 問 量： 9986產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
美國FSM 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備
在襯底鍍上不同的薄膜后, 因?yàn)閮烧卟馁|(zhì)不一樣，以及不同的材料不同溫度下特性不一樣, 所以會引起應(yīng)力。 如應(yīng)力太大會引起薄膜脫落, 引致組件失效或可靠性不佳的問題。 薄膜應(yīng)力激光測量儀利用激光測量樣本的形貌,透過比較鍍膜前后襯底曲率半徑的變化, 以Stoney’s Equation計(jì)算出應(yīng)力, 是品檢及改進(jìn)工藝的有/效手段。
1) 快速、非接觸式測量
2) 128型號適用于3至8寸晶圓
128L型號適用于12寸晶圓
128G 型號適用于470 X 370mm樣品，
另可按要求訂做不同尺寸的樣品臺
3) 雙激光自動轉(zhuǎn)換技術(shù)
如某一波長激光在樣本反射度不足，系統(tǒng)會自動使用
另一波長激光進(jìn)行掃瞄，滿足不同材料的應(yīng)用
4) 全自動平臺，可以進(jìn)行2D及3D掃瞄(可選)
5) 可加入更多功能滿足研發(fā)的需求
電介質(zhì)厚度測量
6) 500 及 900°C高溫型號可選
7) 樣品上有圖案亦適用
美國FSM 薄膜應(yīng)力及基底翹曲測試設(shè)備 FSM128規(guī)格
| 測量方式 | 非接觸式(激光掃瞄) |
| 樣本尺寸 | FSM 128NT: 75 mm to 200 mm FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm FSM 128G: /大550×650 mm |
| 掃瞄方式 | 高精度單次掃瞄、2D/ 3D掃瞄(可選) |
| 激光強(qiáng)度 | 根據(jù)樣本反射度自動調(diào)節(jié) |
| 激光波長 | 650nm及780nm自動切換(其它波長可選) |
| 薄膜應(yīng)力范圍 | 1MPa — 4 GPa(硅片翹曲或彎曲度變化大于1 micron) |
| 重復(fù)性 | 1% (1 sigma)* |
| 準(zhǔn)確度 | ≤ 2.5%使用20米半徑球面鏡 |
| 設(shè)備尺寸及重量 | FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 50 lbs FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 70 lbs FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 200 lbs |
| 電源 | 110V/220V, 20A |
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