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FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動(dòng)薄膜厚度測(cè)繪系統(tǒng)，用于全自動(dòng)圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測(cè)量。電動(dòng)X-Y載物臺(tái)提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程，通過(guò)真空固定在載臺(tái)上時(shí)進(jìn)行精確測(cè)量?？梢罍y(cè)量厚度和波長(zhǎng)范圍應(yīng)用需求可在在 200-1700nm 光譜范圍內(nèi)提供各種光學(xué)配置
更新時(shí)間：2025-09-04
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QuickOCT-4D™ 將單點(diǎn)可見(jiàn)光光譜域光學(xué)相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)相結(jié)合，可以在高達(dá) 66 kHz 的單次測(cè)量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度（高達(dá) 100μm）和軸向分辨率 （5nm） 針對(duì)半導(dǎo)體、生命科學(xué)和制藥行業(yè)的多層透明薄膜、平面基板和功能層的測(cè)量進(jìn)行了優(yōu)化。
更新時(shí)間：2025-09-04型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：4972
硬化涂層膜厚儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
更新時(shí)間：2025-09-04型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：2758
Thetametrisis膜厚測(cè)量?jī)xFR-pRo是一個(gè)模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
更新時(shí)間：2025-09-04型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：4440
FR-InLine 是一款模塊化可擴(kuò)展的在線薄膜厚度測(cè)量?jī)x（膜厚儀），可進(jìn)行在線非接觸測(cè)量 3nm-1mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。$nFR-InLine 膜厚儀并可以依據(jù)各種不同應(yīng)用設(shè)置多個(gè)參數(shù)的實(shí)時(shí)測(cè)量，例如：反射率和透射率光譜、厚度、色座標(biāo)。$nFR-InLine 膜厚儀測(cè)量軟件可以在標(biāo)準(zhǔn) Windws 10/11 中執(zhí)行。
更新時(shí)間：2025-12-27型號(hào)：廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：3646
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更新時(shí)間：2025-09-04型號(hào)：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150廠商性質(zhì)：代理商瀏覽量：1879