紅外激光測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

 

　　應用領域：

　　黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；

　　金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；

　　主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

 

　　紅外激光測厚儀主要類型：

　　1、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

　　2、X射線測厚儀：適用生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業(yè)，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。

　　3、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

　　4、激光測厚儀：是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。

　　5、超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

　　6、涂層測厚儀：涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。